SRM 92 鈉鈣玻璃，低硼（標(biāo)準(zhǔn)品)主要用于驗(yàn)證化學(xué)和儀器分析方法。它可用于驗(yàn)證內(nèi)部參考資料的價(jià)值分配。一個(gè) SRM 92 單元由一個(gè)裝有大約 45 克鈉鈣玻璃粉的瓶子組成。

認(rèn)證質(zhì)量分?jǐn)?shù)值：

表 1 [1] 中列出了 SRM 92 的認(rèn)證質(zhì)量分?jǐn)?shù)值。賦值類別基于 NIST 用于化學(xué)參考物質(zhì) [2] 認(rèn)證的術(shù)語和模式的定義。 NIST 認(rèn)證值是 NIST 對其準(zhǔn)確性有最高置信度的值，因?yàn)樗幸阎蚩梢傻钠顏碓炊家驯徽{(diào)查或考慮在內(nèi)。認(rèn)證值是基于分析結(jié)果對真實(shí)值的當(dāng)前最佳估計(jì)。

儲(chǔ)存和使用說明

要將分析測定與本分析證書上的值聯(lián)系起來，建議的最小樣品量為 250 毫克。該最小質(zhì)量足以使用酸溶解樣品制備方法分析玻璃基質(zhì)組成元素和所有組成元素。然而，某些測量技術(shù)可能需要更大的樣品質(zhì)量。除 B2O3 外，所有成分均按原樣使用。對于 B2O3 的測定，將粉末在 105 °C 下干燥 1 小時(shí)。

使用 X 射線熒光光譜法 (XRF) 的直接分析需要至少 1.5 g 的樣品質(zhì)量，并且測量質(zhì)量可能受益于使用足夠的樣品質(zhì)量來創(chuàng)建相對于所測量的最高能量 X 射線而言無限厚的樣品.在 NIST 進(jìn)行的測量中，最高能量的 X 射線為 26.3 keV 的 Sb K-L2,3。在此能量下，需要 3.25 g 的樣品質(zhì)量來制備直徑為 31 mm 的樣品，例如作為壓塊或作為液體池中的松散粉末。此外，建議將使用 XRF 測量獲得的 Pb 結(jié)果基于至少兩次獨(dú)立測量的平均值。將材料存放在密封的原裝容器中，置于陰涼干燥的地方。不要將材料退回到原來的 SRM 92 瓶中。

準(zhǔn)備和分析

該 SRM 的材料在 NIST 設(shè)施（馬里蘭州蓋瑟斯堡）混合和裝瓶。

NIST 使用 XRF 進(jìn)行了均勻性測試。 發(fā)現(xiàn)粉末的均勻性對于與認(rèn)證中使用的測試方法一起使用是令人滿意的。 NIST 和合作實(shí)驗(yàn)室在開發(fā)此 SRM 時(shí)使用的測試方法列于表 4。B2O3 的測定由以下實(shí)驗(yàn)室進(jìn)行：NIST（馬里蘭州蓋瑟斯堡）； 諾頓公司（馬薩諸塞州伍斯特）； Booth, Garrett & Blair（賓夕法尼亞州費(fèi)城）； 和 Sharp Schurtz Co.（俄亥俄州蘭開斯特）。

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